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所屬分類: | 導熱分析儀(LFA/HFM) |
更新時間: | 2020-05-08 |
無須更換檢測器或爐體, LFA467 HyperFlash在同一臺儀器上可實現(xiàn) -100℃ 到 500℃ 的寬廣溫度范圍。加上目前市場上種類zui豐富的可選配件,開創(chuàng)了熱物性測量的新天地。
一、產(chǎn)品簡介
寬廣的溫度范圍,從 -100℃ 到 500℃
無須更換檢測器或爐體, LFA467 HyperFlash在同一臺儀器上可實現(xiàn) -100℃ 到 500℃ 的寬廣溫度范圍。加上目前市場上種類zui豐富的可選配件,開創(chuàng)了熱物性測量的新天地。
進樣器附有 16 個樣品位,樣品容納量為原來的 4 倍
LFA 467 HyperFlash 的一大優(yōu)勢是可以在整個溫度范圍內(nèi)連續(xù)測量 16 個樣品,大大縮短了測量時間。液氮補給系統(tǒng)可以實現(xiàn)對檢測器與爐體的自動補充液氮,保證儀器全天候不間斷測量。
ZoomOptics 得到的測量結(jié)果更準確,減少測量誤差
技術的 ZoomOptics 優(yōu)化了檢測器的檢測范圍,從而消除了孔徑光闌的影響。顯著增加了測量結(jié)果的精度。
*的采樣頻率(2MHz),特別適合于薄膜樣品
薄膜樣品及高導熱材料需要快速的數(shù)據(jù)采集速率,來精確地記錄樣品上表面的升溫過程。LFA 467 HyperFlash 可以提供 2MHz 的數(shù)據(jù)采集速率,這是 LFA 系統(tǒng)*的。
二、技術參數(shù)
● 溫度范圍:-100°C ... 500°C,單一爐體
● 非接觸式測量,IR 檢測器檢測樣品上表面升溫過程
● 數(shù)據(jù)采集速率:高達 2MHz(包括半升溫信號檢測,及 pulse mapping 技術)-- 對于高導熱及薄膜樣品,采樣時間(約為半升溫時間 10 倍)可低至 1ms,樣品厚度bao可至 0.01 mm 以下(取決于具體的導熱系數(shù))
● 熱擴散系數(shù)測量范圍:0.01 mm2/s ... 2000 mm2/s
● 導熱系數(shù)測量范圍:< 0.1 W/(mK) ... 4000 W/(mK)
● 樣品尺寸:
- 直徑 6 mm ... 25.4 mm(包括方形樣品)
- 厚度 0.01 mm ... 6 mm(樣品的厚度要求取決于不同樣品的導熱性能)
● 16 個樣品位的自動進樣器
● 20 多種支架類型
● 豐富的測量模式,適應各種類型的樣品。如各向異性材料,多層模式分析,薄膜,纖維,液體,膏狀物,粉末,熔融金屬,壓力下的測試,等等。
● Zoom Optics 優(yōu)化檢測器的檢測范圍(專li技術)
● 專li保護的 pulse mapping 技術(US 7038209, US 20040079886, DE 10242741 – approximation of the pulse),用于脈沖寬度修正,可以提高比熱值的測量精度
● 氣氛:惰性、氧化性、靜態(tài)/動態(tài)、負壓
● 遵從如下標準: ASTM E1461, ASTM E2585, DIN EN 821-2, DIN 30905, ISO 22007-4, ISO 18755, ISO 13826; DIN EN 1159-2, 等.
三、ZoomOptics 獲取更準確的測量結(jié)果,減小測量誤差
對于傳統(tǒng)的 LFA 系統(tǒng)設計,檢測器所覆蓋的檢測面積通常被調(diào)整為適合樣品的大尺寸(25.4mm)。對于直徑較小的樣品,通常在樣品之上加上遮光片或遮罩,以盡可能地遮蔽外圍區(qū)域。但由于任何物體都會發(fā)射紅外輻射,遮光片或遮罩材料也不例外,由此得到的檢測器信號不可避免地會受到影響。該影響的程度大小與樣品與遮罩材料的熱擴散系數(shù)的差異有關。由此導致對于某些樣品,檢測器測得的溫度上升曲線的尾部可能出現(xiàn)持續(xù)上升,或者過早地達到水平狀態(tài)。不管是哪種情況,都會導致分析得到的半升溫時間發(fā)生偏移,由此計算得到的熱擴散系數(shù)產(chǎn)生誤差。
使用 LFA467 配備的 ZoomOptics(專li號:DE 10 2012 106 955 B4 2014.04.03)附件,可以更靈活地調(diào)整檢測器的檢測范圍,確保檢測器僅檢測到樣品上表面的溫度升高過程,無需額外的遮罩,周圍環(huán)境信號也沒有任何影響。預設的檢測直徑比率為 70%,適合于大多數(shù)應用,同時軟件允許操作者自由調(diào)整該數(shù)值,以適應特定的樣品尺寸與應用。